荧光涂层测厚仪
 
   型        号：X-stata 920
   厂        商：OXFORD牛津
   原  产  地：美国
产品介绍：  

射线荧光分析仪 X-Strata920 是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。X-Strata920 在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。X-Strata920 为这些行业提供了

  • 以更有效的过程控制来提高生产力
  • 有助电镀过程中的生产成本最小化、产量最大化
  • 快速无损地分析珠宝及其他合金
  • 快速分析多达4层镀层
  • 经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益
  • 操作简单，只需要简单的培训
技术参数：  
快速、精确的分析：大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供最佳灵敏度
  • 简单的元素区分：通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱
  • 性能优化，可分析的元素范围大：X-Strata920 预置800多种容易选择的应用参数/方法
  • 卓越的长期稳定性：自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，确保稳定的测试结果
  • 例行进行简单快 速的波谱校 准，可自 动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行必要的修正
  •  坚固耐用的设计
  • 可在实验室或生产线上操作
  • 坚固的工业设计
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